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橢圓偏振儀的用途

橢圓偏振儀的主要用途是測(cè)量光學(xué)常數(shù)(shù)和基于它們的薄膜厚度。由于它測(cè)量反射偏振光，因此無(wú)法測(cè)量非常厚的物體（約 1 毫米或更?。?。

然而，對(duì)于薄膜來(lái)說(shuō)，存在分辨率為0.01納米尺度的設(shè)(shè)備，因此它們經(jīng)(jīng)常被用來(lái)高精度地測(cè)量薄膜的厚度。它可以測(cè)量各種鍍膜、鏡片等光學(xué)薄膜的光學(xué)性能，以及構(gòu)(gòu)成薄膜的物質(zhì)(zhì)的結(jié)(jié)晶率、成分、光學(xué)各向異性等。

根據(jù)(jù)設(shè)(shè)備的不同，還可以測(cè)量液體的光學(xué)特性。